安铂双用涂层测厚仪XH230

安铂双用涂层测厚仪的详细介绍

双用涂层测厚仪，能同时测量磁性基材表面（如钢、铁等）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层（如油漆等）。本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。

特点：

大点阵液晶屏，标准化菜单操作;

两种测量模式：单次（Single)和连续(Continuous)；

两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部**。通用组数据将自动保存，关机不丢失。每组可存储80个数据；

可零校准和多点校准(*多四点)。各组有单独的零校准和多点校准，组与组之间不影响；

用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除*数据或整组数据；

实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),*小值(Min)，*大值(Max),标准方差(Sdev);

三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)；

可为各组单独设置高低限报警值，超限时屏幕指示报警；

可开启或关闭自动关机功能

USB接口可传输通用组数据到计算机

低电和错误提示

技术参数：

1.     测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）

2.     测量范围：0~1300um

3.     测量误差：&plu*n; (读数的3%+2um);

4.     精度：0um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm);

5.     校准：零点校准，并支持*多4点校准

6.     数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置。

7.     统计值：支持平均值、*小值、*大值和标准方差。

8.     支持单位：um, mm, mils

9.     报*户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示。

10.*小曲率半径：凸1.5mm，凹25mm

11.*小测量面积：直径6mm

12.*小基材厚度：0.5mm（F探头）；0.3mm（N探头）

13.电脑接口：可通过USB口连接计算机下*数据

14.电源：两节1.5V AAA电池

15.操作温度：0~40℃

16.保存温度：--20℃to 70℃

17.尺寸：110mm*53mm*24mm

18.重量：92g

19.可选：XH230 A (一体)和XH230 B（分体）。

标准配置：

XH230 A：主机（内置探头）、标准试片、基体、AAA型碱性电池

XH230 B：主机（内置探头）、探头、标准试片、基体、AAA型碱性电池